Domov Zbirke Javne objave Nabava sistema za testiranje in meritve mikroelektronskih vezij Rok za prijavo je potekel. Nabava sistema za testiranje in meritve mikroelektronskih vezij Več na portalu javnih naročil Šifra JN008664/2021-B01 Datum objave 23. 12. 2021 Rok za prijavo 9. 2. 2022 do 10.00Zaključeno Datum odpiranja 9. 2. 2022
